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  • 鍍層分析儀,X射線熒光測厚儀
    鍍層分析儀,X射線熒光測厚儀適用於鍍層厚度測量及材料分析,具有無損,可靠,高生產力,高靈活性等優點,可用來定性分析樣品的元素組成,也可用於鍍層和鍍層係統的厚度測量,廣泛應用於電路板、半導體、電鍍、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等工業中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。

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    產地:蘇州市

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